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- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- 原产地：日本
阻抗分析仪IM3570仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
阻抗分析仪IM3570测量方式：压电元件的共振特性的测量
LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
HIOKI/日置IM3750阻抗分析仪技术参数
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 测量量程 | 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定） |
| 显示范围 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） |
| 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 测量频率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） |
| 测量信号电平 | V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上） |
| 输出阻抗 | 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF |
| 测量时间 | 0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值） |
| 测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| 其他功能 | DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能 |
| 接口 | EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN |
| 电源 | AC90~264V，50/60Hz，150VA |
| 打印 | 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446） |
| 接口 | GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准) |
| 电源 | AC90~264V，50/60Hz，150VA |
| 体积和重量 | 330W×119H×307Dmm，5.8kg |
| 附件 | 电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1 |
