询价
- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- 原产地：日本
- 频率范围：1 MHz～3 GHz
- 设置分辨率：100 kHz
- 测量电平：-40.0 dBm ～ +1.0 dBm
- 测量范围：100 mΩ～5 kΩ
- 分析模式：频率/扫频测量
- 基本：Z：±0.65%rdg.
- 测量时间：0.5 ms
- 连续测量模式：LCR 30通道，分析 16通道
HIOKI/日置IM7587阻抗分析仪技术参数：
1、测量频率范围：1 MHz～3 GHz
2、设置分辨率：100 kHz
3、保证时间：1年
4、调整后保证时间：1年
5、测量电平：-40.0 dBm ～ +1.0 dBm (4 mV ～502 mV)
6、测量时间：0.5 ms(模拟测量时间)
7、测量范围 ：100 mΩ～5 kΩ
8、测量项目 ：Z, Y, θ, Rs, Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D, Q
9、基本：Z：±0.65%rdg. θ：±0.38°(代表值)
10、接触检查：DCR测量，Hi-Z筛选波形判断(振动检出)
11、分析模式：频率/扫频测量(801点)
12、连续测量模式：LCR 30通道，分析 16通道
13、接口：处理程序，USB，LAN、GP-IB(选件)，RS-232C(选件)、U盘
HIOKI/日置IM7587阻抗分析仪特点：
一、实现高达3GHz的高频测量，覆盖1MHz~3GHz的宽测量频率。这种偏差小，稳定
性高的测量，是最适用于研发的阻抗分析仪；
二、装卸简单提供准确的SMD测量：使用可对应6种尺寸SMD的专用选件IM9201(另售)，可简单准确的测量被测物；
三、接触检查(DCR测量和Hi-Z筛选)：通过DCR测量电感线圈，然后用Hi-Z筛选电容器从而进行各种接触检查。无论哪种情况都与检查出的振动结合，实现可以信赖的测量。
四、节省空间的紧凑型机身：主机尺寸为215W×200H×348D mm为通常一半。作为该级别测试仪，属于超级轻便的机型。
HIOKI/日置IM7587阻抗分析仪配置：
主机构成：IM7587主机，测试前端，连接线
订购型号(连接线长度)：
选件
1、SMD测试治具IM9201
2、测试治具台IM9200
3、适配器(3.5 mm-7 mm)IM9906
4、校正板IM9905(预定近期发售)
