ST-Thermal_X 功率器件热特性测试
可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性
试验能力
? 功率循环 · 秒级 / Pcsec
? 功率循环 · 分钟级 / PCmin
? 被动循环 / TC
? 热阻()/ Rth/Zth
? K曲线 / Kcurve





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李先生先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)
西安天光测控技术有限公司
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经营模式:工厂
所在地:陕西省 咸阳市
主营产品:参数测试仪,半导体器件测试仪,功率器件测试仪,SiC 碳化硅器件测试仪, GaN 氮化镓器件测试仪,晶闸管参数测试仪,美国ITC57300功率器件动态参数测试系统替代产品,瑞士LEMSYS IGBT
ST-Thermal_X 功率器件热特性测试
可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性
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