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光学膜厚仪1（CDNY-03AM）
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光学膜厚仪1（CDNY-03AM）

产品价格：
电议
产品型号：
CDNY-03AM
供应商等级：
免企业未认证
经营模式：
工厂
企业名称：
成都南仪电子电气有限责任公司
所属地区：
四川省成都市
发布时间：
2014/4/8 11:17:34

86-28-85754781      86-13980023524

薛先生(联系我时，请说明是在维库仪器仪表网看到的，谢谢)

企业档案

成都南仪电子电气有限责任公司

免企业未认证证营业执照未上传

经营模式：工厂

所在地：四川省 成都市

主营产品：计算机产品，电工电气，工业设备及组件，仪器仪表，制造加工机械，五金工具，电子元器件

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　　CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪
　　CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有强的抑制能力。

　　主要性能指标及技术指标
　　主信号通道：
　　信号输入方式：单端交流输入
　　输入量程：0.5mV-500mV
　　信号频率范围：1KHz&plun;5％
　　本机频相噪声：≤4nV／Hz（折合到输入端）
　　性误差：≤0.1％
　　点时源：≤0.2％／h

　　参考信号通道：
　　信号输入方式：单端交流输入
　　输入幅度：20-700mV
　　频率范围：≥320.

联系方式

成都南仪电子电气有限责任公司

联系人：
薛先生
手机：
86-13980023524
传真：
86-28-85754908
所在地：
四川省 成都市
类型：
工厂
地址：
四川省成都市双流县九江镇草金路双羽工业园区

服务热线

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