主要用途 样品外观、形貌检测。 性能参数 a)总放大倍数为50x-1000x; b)目标Z空间:0-25mm; c)具有明场、暗场(ADF)、偏光(其中检偏器可旋转360°)、微分干涉观察功能和预留功能位置,功能转换方便,增减功能操作简捷; d)具备记录光口,可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 应用范围 主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。 |
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sunny先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)
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主营产品:失效分析,可靠性测试,安全检测,fib,x-ray,emmi手动探针台probe station,激光开封机laser decap,微光显微镜emmi,红外显微镜,iv自动曲线量测仪,fib,sem,sat,xray,rie,hast等半导体失效分析设备及测试
主要用途 样品外观、形貌检测。 性能参数 a)总放大倍数为50x-1000x; b)目标Z空间:0-25mm; c)具有明场、暗场(ADF)、偏光(其中检偏器可旋转360°)、微分干涉观察功能和预留功能位置,功能转换方便,增减功能操作简捷; d)具备记录光口,可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 应用范围 主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。 |