询价
- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- X\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Y\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
- SDD探测器：分辨率低至135eV
- 样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
- 同时检测元素：最多24个元素，多达五层镀层
- 检出限：可达2ppm，最薄可测试0.005μm
- 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
- SDD探测器：分辨率低至135eV
- 准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合
产品功能
新款Thick8000半导体芯片光谱膜厚仪秉承了上一代Thick800A的优点，在此基础上设计了三维移动平台，先进的样品观测系统和图像识别功能，满足了槽状样品的测试和不同规格样品的测试，同时加上大面积的高分辨率的探测器，大大提高了准确度，为客户提供更的测试，从而降低产品的成本，提高产品的竞争力。
产品选型
半导体芯片光谱膜厚仪，thick800ax-ray镀层测厚仪，x荧光镀层测厚仪价格，thick8000镀银层无损测厚仪，x荧光镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，X荧光电镀层测厚仪，镀层膜厚测试仪，铜上镀镍金测厚仪，X荧光金属膜厚测厚仪，x荧光金属测厚仪，无损金属镀层测厚仪,镀金膜厚仪,PCB表面镀层测厚仪,thick600金属镀层分析仪，镀银厚度测试仪，EDX1800B膜厚测试仪x-ray ，金属镀层膜厚仪，X射线荧光多镀层厚度测量仪，铜镀银X射线无损测厚仪，镀层分析仪
产品简介
半导体芯片光谱膜厚仪是一款通过X射线照射方式测试电镀层厚度的仪器，针对镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银等镀层厚度检测，性多可以测5层，是一种无损仪器，整个操作通过电脑全过程清晰可见，而且操作非常简单，人员简单的培训即可上岗操作，降低了企业在来料（不合格）和生产过程中因产品镀厚或者镀薄而造成的不必要损失。
参数规格
半导体芯片光谱膜厚仪可以分析从硫到铀之间的元素，同时可以测试24种元素之多，含量范围一般从2个PPM到百分之99.9；镀层厚度一般在50μm以内，不同材质略有差异，先进的SDD探测器，高清的工业摄像头，仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm，样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm，样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
服务厂家
天瑞仪器凭借产品的卓越性能、完善的售后服务，以及超高的性价比取得的美的生活电器技术的一致认可与青睐。
应用客户
目前天瑞仪器的产品已经服务于海尔、创维、LG、长虹、TCL、美的、美菱、三星、方太等多数国内外知名生活电器品牌，成功地为中国的电子电器行业提供了分析检测领域为完善的行业解决方案。
应用领域
半导体芯片光谱膜厚仪主要应该用在电子电器（线路板/PCB）、五金工具、电镀加工、制冷设备、半导体、五金配件、端子连接器、腔体等企业中。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是国内早研发生产x射线荧光测厚仪的厂家，在行业内国内品牌和知名度非常高，市场占有率国内，同时公司在分析仪器领域也是佼佼者，在2011年成功上市，凭借产品质量和售后服务得到了客户的认可，整个产品来说性价比非常高。
公司从事光谱（ROHS检测仪、X荧光测厚仪、矿石分析仪、合金分析仪、便携式光谱仪、电感耦合等离子体光谱仪ICP）、色谱、质谱（气相色谱质谱联用仪GCMS、液相色谱质谱联用仪LCMS、电感耦合等离子体质谱仪ICPMS）等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
天瑞仪器将以“行业技术”的姿态，不断探究世界分析领域的。为客户提供更加先进的产品和更加满意的服务
