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- 类型：XRF
- 测量元素范围：钠（Na）到铀（U）
- 元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
- 同时分析元素：一次性可测几十种元素
- 测量时间：60秒-200秒
- 能量分辨率为：145±5eV
- 管压：5KV-50KV
- 管流：50uA-1000uA
- 外形尺寸：660mm×510mm×350mm
产品介绍
EDX 4500HX荧光光谱分析仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。X荧光光谱分析仪是属于大型光学精密一起。以前我国主要依靠进口光谱分析仪，进口的光谱分析仪价格昂贵，耗费国家大量外汇。所以一机都在75年组织了光电式光谱分析仪会战，从此我国可以自己大量生产大型X荧光光谱分析仪。X荧光光谱分析仪结构虽然很复杂，主要由下面四部分组成：光源、分光器（又称单色器）、接收器（又称探测器）、输出装置。为了更好的利用仪器和得到满意的测试结果，必须对仪器各主要部分的作用和原理有所了解。
产品优点
1.采样方式灵活，对于稀有和贵重金属的检测和分析可以节约取样带来的损耗。
2.测试速率高，可设定多通道瞬间多点采集，并通过计算器实时输出。
3.对于一些机械零件可以做到无损检测，而不破坏样品，便于进行无损检测。
4.分析速度较快，比较适用做炉前分析或现场分析，从而达到快速检测。
5.分析结果的准确性是建立在化学分析标样的基础上。
技术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱分析仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
同时分析元素：性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
性能特点
高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
应用领域
X荧光光谱分析仪合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是生产X荧光测厚仪，液相色谱质谱仪（LCMS）,五金镀层测厚仪，x射线测厚仪，ROHS检测仪，手持式ROHS光谱仪，手持式合金分析仪，ROHS检测设备，电镀层测厚仪，五金镀层测量仪，天瑞ROHS仪，X射线镀层测厚仪。
