询价
- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- 原产地：江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
- 探测器：Si-Pin探测器。
- 光管：X光管。
- 分析范围：元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
- 测试：同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
国产X荧光测厚仪
产品介绍
Thick800A X荧光测厚仪（国产）是天瑞仪器专门研发用于镀层行业的一款荧光测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，国内分析仪器上市企业（股票代码：300165）。
性能特点
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
国产X荧光测厚仪φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：Thick 800A
分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。
国产X荧光测厚仪分析含量一般为2ppm到99.9%
X荧光测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
可同时分析多24个元素，五层镀层。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
国产X荧光测厚仪精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
可以测试黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
X荧光测厚仪（国产）主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀企业、半导体企业、电子连接器、五金工具企业、电子电器企业。
