询价
- 测量元素范围：镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量
- 同时检测元素：数几十种元素可同时分析
- 含量范围：ppm～99.99%
- 检测时间：3-30秒
- 检测对象：固体、液体、粉末
- 探测器：25mm2 0.3mil，SDD探测器
- 仪器重量：1.9Kg（配备电池），1.6Kg（无电池）
- 电池使用时间：可充电锂电池，电池电量7800mAH
XRF型X荧光矿石分析仪
产品介绍
我国的地质矿产行业，从一开始均采用化学分析的手段对地质样品进行测试，这种方法一直沿用到现在依然是一种非常可靠的方法，但是其测试速度慢、对测试人员要求高、测试环境要求高，无法实现现场快速分析。
从70年代末开始一直在引入国外的分析设备来不断提升分析测试能力，到今天X荧光矿石分析仪在地矿系统中应用非常广泛，产品分为台式X荧光矿石分析仪和便携式X荧光矿石分析仪。
Genius7000型便携式X荧光矿石分析仪
设备特点
X荧光法在应用于矿石行业的特点很明显，分析速度快，前处理简单，样品无损、人为误差小、分析范围广、检出限达到ppm级等的特点。可以测液体、固体和粉未样品。可用于室内外现场分析
。
1、设备简单易用（野外设备需要便携）
2、可快速对样品做定性分析
3、对样品可做半定量或准定量分析。
4、样品处理方法简单或无前处理
5、设备可靠、维修、维护简单
6、便捷、低廉的售后服务保证
设备作用
采用便携式X荧光矿石分析仪主要是为了能在野外地质分析和找矿。为现场人员提供数据支持和依据。
在找矿和矿山冶炼过程中，也起到快速分析的作用，进行定性、定量分析，提供初级数据和生产控制实时数据
测试
便携式X荧光矿石分析仪测定多金属矿中元素的方法
测试对象：多金属矿
仪器：Genius 7000XRF
测定步骤：
步：前处理样品-粉碎后压片10g左右直接测试。
第二步：确定测试时间：30S
第三步：测试其重复性得出相对标准偏差
测试结果
EDX4500型台式X荧光矿石分析仪
产品配置
1.全机采用国外先进的进口配件
2.采用数字多道技术，高计数
3.植入公司-信噪比增强器
4.真空设计
5.测试元素：Na-U
6.带有8组准直器与5组滤光片自由切换
7.应用面广
产品特点
1、快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟，样品可不处理或进行简单处理。
2、无损：物理测量，不改变样品性质
3、准确：对样品可以分析
4、直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快
5、环保：检测过程中不产生任何废气、废水
测试
台式X荧光矿石分析仪测定镍矿中元素的方法
测试对象：镍矿标样和客户镍矿样
仪器：EDX4500
测定步骤：
步：前处理样品-粉碎后压片10g左右直接测试。
第二步：确定测试时间：30S
第三步：测试其重复性得出相对标准偏差
第四步：客户提供一批样品的测试数据对比
测试结果
